OptimalPlusのランプアップソリューションは、半導体市場初の真のエンタープライズレベルの半導体特性評価ソリューションで、IDM企業とファブレス企業のいずれにも適しています。

次世代のICは機能や複雑さがますます増加しており、その特性評価プロセスにも、純粋にビッグデータを扱うことの困難さが伴うようになってきています。テストされる部品の数は比較的少ないにもかかわらず(通常、数千個程度)、部品1つ当たりのテスト数は数万にも及び、場合によっては数十万に達することもあります。OptimalPlus NPIは、半導体の特性データの収集・管理を簡単にするほか、製品分析に必要な機能をすべて提供し、複数のプロセス、電圧、温度条件について測定されたパラメーターと機能に関する何千もの測定値に基づいて、新しい製品の動作を総合的に評価してグラフ化できるようにします。より多くの製品データを収集、比較、分析することが可能となり、生産のランプアップが開始される前に、より現実的な対応に結びつく知見を得ることができます。これにより、量産時の問題に左右されにくい高品質かつ高性能な製品を製造できる可能性が大幅に高まり、ひいては市場不良品の減少につながります。

データの収集を効率化

エンジニアは、特性試験を手作業で頻繁に行う傾向があります。OptimalPlus NPIでは、ETLプロセス(生の特性データを抽出、変換、格納するプロセス)を容易にする当社独自のステージングエリアである「サンドボックス」を利用でき、構造化されていない半導体特性データの収集、クレンジング、アノテーションという骨の折れる作業が楽になります。これにより、プロセスがはるかに効率化されるとともに、より正確かつ完全な結果を得ることができます。

チームの共同作業を促進

NPIを使用すれば、真の透明性と共同作業が実現され、複数のIPブロックについてそれぞれ作業している複数の特性評価チーム間でありがちな意思疎通の欠如の問題を解決できます。

きめ細かな分析

OptimalPlus NPIでは、複数のプロセス、電圧、温度条件について測定されたパラメーターと機能に関する測定値(ロット名や製品IDなど)に基づいて新しい半導体デバイスの動作を総合的に分析してグラフ化するための機能がすべて揃っています。

正確なレポートを作成

OptimalPlus NPIでは、あらゆる特性分析結果に関するレポートを素早く作成できます。そのため、各関係者は、プロジェクト内で自分が関わるエリアに関する詳細な結果を素早く確認できます。

その他のソリューションを見る

効率向上ソリューション:
スループットを
最大20%改善

不要なテストと再テストを特定することで、製造プロセスの生産性が向上し、装置のスループットが最大20%改善され、設備投資と運用コストが大幅に低減します。
詳しく見る

歩留まり向上ソリューション:
全体的な歩留まりを
最大2%改善

本当の不良品だけを破棄できるようになります。これにより、良品をすべて市場に投入することが可能となり、全体的な歩留まりが最大2%改善されます。
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品質向上ソリューション:
流出を
最大50%削減

不良品流出防止ソリューションや、業界で最も包括的な異常検出ソリューションといった独自のソリューションを組み合わせることで、デバイスの高品質を維持し市場不良品流出が最大50%削減されます。
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「OptimalPlusのサービスにより、リアルタイム且つ精巧な意思決定を行うことが可能になり、製品の品質を大幅に向上させることができます。」
CRAIG NISHIZAKI Senior Director of ATE Development