半導体の品質/信頼性向上ソリューション: 不良率を最大限抑えて最高レベルの品質の製品を製造

お客様に高性能の半導体デバイスを提供するには、製造環境で「品質ファイアウォール」を確立することが必要不可欠です。Optimal+の不良品流出防止ソリューションと異常品検出ソリューションを導入すれば、決定論的分析と統計分析のワンツーパンチで不良品流出を防止できます。さらに、パラメトリックSPC、市場不良品分析、品質指標評価によって完璧な流出防止が実現され、不良チップの出荷を確実に防ぐことが可能となり、お客様から要求される不良ゼロの目標を確実に達成できます。

異常品検出

異常品検出は、さまざまなアプリケーションの標準要件となりました。Optimal+には、業界で最も包括的かつ強力な異常品検出アルゴリズムのライブラリに加えて、複数の場所に分散されている製造現場全体でそれらのライブラリを展開して管理するためのインフラも用意されています。当社のソリューションでは、複数の場所に分散されている製造現場のデータを1つにまとめて、高度な相関分析技術を使用して複雑なシナリオ(PCAを用いた多変量の異常品検出など)に対処できます。当社の複合型系譜ソリューションを使用することで、複数のダイを1つのパッケージにアセンブルする高度なパッケージソリューションも難なくこなせます。

テスト漏れ防止

当社は、多数の世界的半導体企業のデータを分析してきた経験を通じて、製品の品質低下の原因となるさまざまな製造上の問題に関する知見を獲得してきました。当社は、この知見を、専用のルールとアルゴリズムから成るライブラリにまとめ、テストプロセスを監視して、装置やユーザー、テストに関するさまざまな問題を特定し、不良が疑われる部品が出荷されるのを防止できるようにしました。

品質指標

Optimal+では、複数の場所に分散されている製造現場全体に対して強力な分析機能を使用して、ユニットレベルの品質指標を作成することができます。この指標により、生産チームは、複数のテストフェーズにわたって複数のリスク要因とデバイスパラメーターを追跡することが可能となり、高度に洗練された品質評価データのビニングを行うことができます。

RMAデータベース

OptimalPlusのデータベースでは、お客様の市場不良品に関する情報を既存の製品情報にリンクさせる手段が用意されており、また、カスタマイズ可能な分析インターフェイスを使用することで、かつてない履歴分析を行うことができます。これらの機能を適用することで、不良の根本原因を素早く特定できます。この2つの機能は、測定されたパフォーマンス指標の異常の特定に利用でき、不良品が市場に投入されるのを未然に防ぐための異常品検出アルゴリズムに応用できます。

その他のソリューションを見る

ランプアップソリューション:
新しい製品を
より迅速にランプアップ

業界初の特性評価オプションにより、新しい製品の特性評価とランプアップを従来よりも素早く行って、複数のIPブロックと大規模なテストプログラムを用いた製品分析を簡単に行えるようになります。
詳しく見る

効率向上ソリューション:
スループットを
最大20%改善

不要なテストと再テストを特定することで、製造プロセスの生産性が向上し、装置のスループットが最大20%改善され、設備投資と運用コストが大幅に低減します。
詳しく見る

歩留まり向上ソリューション:
全体的な歩留まりを
最大2%改善

本当の不良品だけを破棄できるようになります。これにより、良品をすべて市場に投入することが可能となり、全体的な歩留まりが最大2%改善されます。
詳しく見る
「私達は生産収率と品質の大幅な改善ができました。」
John Docherty, Senior VP, Global Operations, AMD

OptimalPlusの知識ベースのご紹介

パンフレット: ソリューションの概要: グローバルオペレーション

この革新的なソリューションによって、お客様の半導体製品や世界規模の製造オペレーション・プロセスにどのような総合的な視点がもたらされるかをご覧ください。
詳しくはこちら

パンフレット: ソリューションの概要: 不良流出防止

この資料をダウンロードし、品質に影響したり、テスト流出につながる検査工程や運用上の問題点に対処する方法を学んでください。
詳しくはこちら