半導体効率向上ソリューション

製品分析を行って製造上の非効率性を発見、対処することで、コストが最大20%削減されます。また、生産性が低い装置を特定して問題を解決することで、装置の稼働率とスループットを向上させ、直行率を高めて無駄な再テストを減らします。

重要指標を組み合わせて評価

当社の製品分析ソリューションは、装置の稼働率を高め、スループットを向上させるのに役立ちます。これにより、テストプロセスや製品が改善されると同時に、効率が大幅に向上し、テストフリートをより有効に活用できるようになり、グローバルな運用が可能となります。

最終利益にもたらす影響

テスト装置の購入台数を減らして設備投資を削減すると同時に、テストプロセスを効率化して運用コストを削減します。

アダプティブ・テストタイム・リダクジョン(ATTR)

品質に妥協することなくテストプログラムを最適化します。いずれの半導体テスト設備も、所定のテストプログラムが占有できる時間は決まっています。そのため、エンジニアは、どのテストを実施すべきかという難しい判断が迫られます。OptimalPlusのATTRは、品質の低下を防ぎつつテストコストの低減を実現します。このATTRでは、いわゆる「不良の無い」テストを単にテストプログラムから恒久的に削除するのではなく、指定されたインターバルで不良の無いテストをオン/オフできます。そのため、製造プロセスが変更された場合に不良の無いテストを直ちに再導入できるのです。

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ランプアップソリューション:
新しい製品を
より迅速にランプアップ

業界初の特性評価オプションにより、新しい製品の特性評価とランプアップを従来よりも素早く行って、複数のIPブロックと大規模なテストプログラムを用いた製品分析を簡単に行えるようになります。
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歩留まり向上ソリューション:
全体的な歩留まりを
最大2%改善

本当の不良品だけを破棄できるようになります。これにより、良品をすべて市場に投入することが可能となり、全体的な歩留まりが最大2%改善されます。
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品質向上ソリューション:
流出を
最大50%削減

不良品流出防止ソリューションや、業界で最も包括的な異常検出ソリューションといった独自のソリューションを組み合わせることで、デバイスの高品質を維持し市場不良品流出が最大50%削減されます。
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「OptimalPlus製品ライフサイクル分析プラットフォームとソリューションで、最先端の生産ソリューションと連携して、リアルタイムで生産を監視し、疑わしいデバイスがお客様に出荷されるのを自動的に防ぐ包括的なセーフティネットを作ります。」
David Reed, EVP Technologies & Operations, NXP

OptimalPlusの知識ベースのご紹介

パンフレット: ソリューションの概要: グローバルオペレーション

この革新的なソリューションによって、お客様の半導体製品や世界規模の製造オペレーション・プロセスにどのような総合的な視点がもたらされるかをご覧ください。
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パンフレット: ソリューションの概要: 不良流出防止

この資料をダウンロードし、品質に影響したり、テスト流出につながる検査工程や運用上の問題点に対処する方法を学んでください。
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