半導体歩留まり向上スーツ

製造プロセスとテストプロセスが最適な条件で着実に実行されているか確認し、検査とテストで発生した歩留まりロスの根本原因を解決することで、失われた歩留まりを取り戻すことができます。OptimalPlusソリューションの分析機能により、失われた歩留まりを最大2%取り戻せた実績があります。

リアルタイム監視で早期に検出

製品の製造、テスト、アセンブリプロセスにおいて、ユーザーが定義した統計値の変化を追跡して検出することで、損失が大きくなる前に是正措置を行うことができます。Optimal+では、24時間365日稼働するルールエンジンが採用されており、問題発生と同時にその問題を検出してアラートを通知し、製造プロセスチームが定義した手順に基づいてプロセス管理の対応を行わせることができます。

クリーンで信頼性の高いデータ

当社の総合的なデータベースでは、テストプロセスから大量の情報が集計されます。このデータベースはデータ分析ツールからアクセス可能で、実際の対応に結びつく情報に瞬時にアクセスできます。

複数の施設の精査

Optimal+は、半導体のエコシステムを構成するほぼすべてのファウンドリーとOSATから支持されており、エレクトロニクスのサプライチェーンに急速に広まっています。そのため、Optimal+を利用するお客様は、ベンチマークサプライヤーになるという他では得られないアドバンテージを得ることができ、世界各地に存在するテストサイトの歩留まりとその傾向を比較することが可能となります。

カスタマイズされた強力な分析機能

当社の機能豊富なUI機能を活用することで、ユーザーはカスタマイズされた独自のテンプレートを設計して、強力かつ直感的な製品分析機能を実現し、実行可能かつインテリジェントな知見を得られるようになります。また、リアルタイムのレポートを自動的に作成して他の関係者に配布することもできます。

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ランプアップソリューション:
新しい製品を
より迅速にランプアップ

業界初の特性評価オプションにより、新しい製品の特性評価とランプアップを従来よりも素早く行って、複数のIPブロックと大規模なテストプログラムを用いた製品分析を簡単に行えるようになります。
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効率向上ソリューション:
スループットを
最大20%改善

不要なテストと再テストを特定することで、製造プロセスの生産性が向上し、装置のスループットが最大20%改善され、設備投資と運用コストが大幅に低減します。
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品質向上ソリューション:
流出を
最大50%削減

不良品流出防止ソリューションや、業界で最も包括的な異常検出ソリューションといった独自のソリューションを組み合わせることで、デバイスの高品質を維持し市場不良品流出が最大50%削減されます。
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「私達は生産収率と品質の大幅な改善ができました。」
John Docherty, Senior VP, Global Operations AMD

OptimalPlusの知識ベースのご紹介

パンフレット: ソリューションの概要: グローバルオペレーション

この革新的なソリューションによって、お客様の半導体製品や世界規模の製造オペレーション・プロセスにどのような総合的な視点がもたらされるかをご覧ください。
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パンフレット: ソリューションの概要: 不良流出防止

この資料をダウンロードし、品質に影響したり、テスト流出につながる検査工程や運用上の問題点に対処する方法を学んでください。
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